低雜散 247/TPAK 動態(tài)測試方案:由 QT-3108SW 動態(tài)測試系統(tǒng)與重力式分選機組成。
支持 TO247/TPAK SIC MOS IGBT 封裝器件動態(tài)參數(shù)測試。
● RG 1-512線性可調
● 負載電感10-1100uH步進10uH
● 短路保護<1us
● 支持KGD測試針卡保護電路
QT-3108SW功能齊全,支持SW、ISC 、TRR(系列參數(shù))、
ILATCH、SCSOA、QG參數(shù)測試,選配UIS。
應用環(huán)境測試應用板與分選機直連 |
開通/關斷延時TDON / TDOFF
測量范圍:0~2us |
上升/下降時間TR / TF
測量范圍:0~2us |
反向恢復時間TRR
測量范圍:0~5us |
反向恢復電荷QRR
測量范圍:0~10uC; |
總柵電荷QG
測量范圍:0~100uC; |
短路電流SCSOA
測量范圍:0~5000 A; |
鉗住電流ILATCH
測量范圍:25~1000 A; |
閾值電壓VTH
測量范圍:0~10.0V; |
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解決線材分布電感引起測試結果不良
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