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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁(yè) 產(chǎn)品中心 半導(dǎo)體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
分類
QT-3104 QG 柵極電荷測(cè)試

QT-3104 QG滿足SiC器件微小QG值測(cè)試



支持雙DIE

過(guò)載欠壓保護(hù)

高精度測(cè)試

支持?jǐn)U展

型號(hào) QT-3104 QG
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 滿足SiC器件微小QG值測(cè)試
主要特點(diǎn) ? 測(cè)試能力:200A/150V 150A/1000V