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第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 半導(dǎo)體測試 功率器件測試系統(tǒng)
分類
QT-3101 UIL 雪崩測試

QT-3101 UIL 雪崩測試適用于測試 MOSFET、IGBT、二極管的雪崩參數(shù)



支持雙DIE

快速充電

失效波形保存

鉗壓功能

型號 QT-3101 UIL
產(chǎn)品優(yōu)勢 支持 VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I) 測試
內(nèi)置示波器
極限能量掃描測試
可設(shè)定單脈沖、多脈沖或者雙 MOSFET 測試
可與 QT-4100B 共用一臺電腦，實現(xiàn)測試程序和數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理
主要特點 ? 輸出測量能力：最大測量 BVdss:±3000V 最大輸出 ID:±150V 、±200A
? 可編輯 VG MAX:±30V脈寬調(diào)節(jié)（分辨率：1us）
? 可編程電感箱負載 10μH-159.9mH 步進 10μH
? 可編程分選機接口信號 24 個