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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類(lèi)
QT-8600RF 混合信號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)

RF6G 測(cè)試模組，應(yīng)用于大功率輸出、諧波測(cè)試、開(kāi)關(guān)時(shí)間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端回路、IP3、雜散測(cè)試



懸浮電源

多Site并行

多通道高精度

支持多種擴(kuò)展

型號(hào) QT-8600RF 混合信號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) RF6G 測(cè)試模組，應(yīng)用于大功率輸出、諧波測(cè)試、開(kāi)關(guān)時(shí)間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端回路、IP3、雜散測(cè)試
主要特點(diǎn) ? DC、數(shù)字、RF一體化機(jī)臺(tái)
? 16 個(gè)RF端口(8 in & 8 out)
? 6Ghz 射頻測(cè)量回路，功率可配48dBm
? 自研射頻源板卡和算法，UPH較傳統(tǒng)提高90%以上
? 支持矢量和標(biāo)量測(cè)試
? 數(shù)字滿足MIPI 50Mhz以上測(cè)試
? 支持2站RF并行測(cè)試，多站復(fù)合測(cè)試
? 為 RF開(kāi)關(guān)、LNA、TUNER、濾波器等器件提供追求卓越性價(jià)比的測(cè)試平臺(tái)。