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第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 半導體測試 IC測試系統(tǒng)
分類
QT-8100 數(shù)?；旌?IC 測試系統(tǒng) (Cable-Mount)

適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測試和混合類及模擬類IC器件功能性測試。 主要測試：電源管理類，數(shù)碼消費類，馬達驅動類，音頻放大器、運放等。



懸浮電源

多Site并行

多通道高精度

支持多種擴展

型號 QT-8100
產(chǎn)品優(yōu)勢

數(shù)模混合IC測試系統(tǒng)適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測試和混合類及模擬類IC器件功能性測試。主要測試：電源管理類，數(shù)碼消費類，馬達驅動類，音頻放大器、運放等

主要特點 ? 懸浮V/I源，四象限
? 由測試盒引出全資源，8site并測
? 數(shù)字速率100Mhz，向量深度8M
? 真并測，多路1000V/20A高壓大電流
? 18 bit 高精密采樣
? 20 個模擬槽位（Max 216通道）/ 8 個數(shù)字槽位（ Max 128通道）
? 多通道高精度時間測量單元，支持ns級別時間測量
? 支持RF模組擴展
? PCIE 卡，測試效率更高