聯(lián)動科技成功參展SEMICON CHINA 2016
032016.17
writer:聯(lián)動科技 pubdate:2016-03-17 00:00:00 visits:1972
2016年3月15-17日,聯(lián)動科技在為期三天的面向全球半導(dǎo)體同行的旗艦展會SEMICON上,向新老客戶展示了公司目前在半導(dǎo)體IC集成電路和Discete測試系統(tǒng),激光打標(biāo)系統(tǒng)和視像檢測系統(tǒng)類的最新產(chǎn)品。包括:QT-8200/8100模擬數(shù)字混合信號IC測試系統(tǒng);QT-6166C1S高速測試系統(tǒng)(內(nèi)置LCR模組);綜合測試平臺(RG/雪崩/熱阻/DC);視像定位打標(biāo)機(jī)等。
中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 | |
0757 83207313 (銷售) | |
0757 83208786 (銷售) | |
info@powertechsemi.com |
佛山市聯(lián)動科技股份有限公司 版權(quán)所有 powertechsemi.com ? 2015 | 隱私政策 | Sitemap 粵ICP備17127080號-1